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数显薄膜测厚仪

更新时间:2010-07-22      浏览次数:1705

 

功能用途:主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特数显薄膜点。
技术指标:
1.测量范围:(0-25mm
2.分辨率:0.001mm 
3.电源:氧化银电池SR44 
4.工作温度:0+40 
5.储运温度:-20+70
6.相对湿度:≤80%
兰博(济南)试验仪器有限公司
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